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• 1. Über PVA SPA  
  Über PVA SPA Die PVA SPA Software Entwicklungs GmbH beliefert Kunden weltweit mit spezifischen Softwareprogrammen für die industrielle Automatisierung von Produktionssystemen. Darüber hinaus bieten…  
• 2. Weltweit  
  PVA SPA Software Entwicklungs GmbH Seifartshofstraße 12–14 96450 Coburg, Deutschland Kontakt Telefon: +49 (0) 9561 7947-0 Wir bieten Vertriebs- und Servicesupport für unsere Software- und…  
• 3. Weltweit  
  Wir bieten Vertriebs- und Servicesupport für unsere Software- und Hardwarelösungen in vielen Teilen der Welt an. Hochqualifizierte Spezialisten beraten zu sinnvoller Ausrüstung und…  
• 4. Optische Inspektion  
  MIx-Optionen: Software-Add-on für Metrologie 3D-Oberflächenmesstechnik Infrarot-InspektionstechnikEBIS-Optionen: auch als Einzelsystem oder in Geräteumgebung von Drittanbietern integriert…  
• 5. Optische Inspektion - Mikroskope mit Universalloader (UL20x-Modelle)  
  Mikroskope mit Universalloader (UL20x-Modelle) Automatische Wafer- oder Frameladung  
• 6. Optische Inspektion - Anwendung Mikroskope mit Universalloader  
  Anwendung Mikroskope mit Universalloader Automatische oder manuelle optische Mikroskop Inspektion von Wafern bis zu 200mm, die mit dem UL200 Wafer Loader automatisch aus Kassetten auf einen…  
• 7. Maschinenanbindung  
  Maschinen Anbindung über OPC/UA Schnittstelle SECS via OPC/UA Anbindung Support via Siemens S7 1500er-Reihe   GEM300 vordefinierte Datenbausteine (OPC/UA) : E40, E87,…  
• 8. Maschinenanbindung - Wir unterstützen die folgenden GEM300-Standards:  
  Wir unterstützen die folgenden GEM300-Standards: SEMI E4-SEMI Equipment Communications Standard 1 Message Transfer SEMI E5-SEMI Equipment Communications Standard 2 Message Content SEMI…  
• 9. Maschinenanbindung - Maschinen Anbindung über OPC/UA Schnittstelle  
  Maschinen Anbindung über OPC/UA Schnittstelle SECS via OPC/UA Anbindung Support via Siemens S7 1500er-Reihe   GEM300 vordefinierte Datenbausteine (OPC/UA) : E40, E87,…  
• 10. Optische Inspektion - Anwendung  
  Anwendung EBIS synchronisiert auf einer Wafer-Rückseite befindliche optische Defekte mit der Vorderseiten-Chipstruktur. Vermeiden Sie eine überdimensionierte Klassifizierung von Fehlerbereichen und…