Optimierung von Multi Site Probing

Der MSO Stepping Optimizer ist eine Einzelapplikation zur Optimierung des Multi-Site-Probing-Prozesses in Ihrem elektrischen Wafertestbereich.

Highlights:

  • Reduzierung von Berührungen und Minimierung der Probingdauer
  • Steigerung der Effizienz Ihrer Probergeräte mit nur einer MSO-Benutzerlizenz
  • Optimierung Ihrer Probing-Bahn (Verbesserung bzgl. Wärme/Geschwindigkeit)
  • Flexible Multi-Site-Layouttypen: solide, H-Säule, V-Säule, Schachbrett, Sprung, solide Freiform, Raute, diagonal, multidiagonal

Optionen:

  • Finden Sie Ihr ideales Prüfkarten-Layout mit dem Automatic Layout Finder (ALF)
  • Optimieren Sie die Lebensdauer Ihrer Prüfkarten mit Automatic Site Balancing (BAL)
  • Layouterstellung Full-Wafer-Prüfkarte (Full wafer probecard, FWC)

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Stepping Optimizer

Multi-Site Stepping Optimizer

Multi Site Probing - die Anwendung

MSO optimiert die xy-Positionen von Multi-Site-Prüfkarten auf Waferprobern und ermöglicht die Berechnung verschiedener Stepping-Bahn-Sequenzen.

Hauptvorteile:

  • Berechnung der Mindestanzahl an Berührungen für den Test eines ganzen Wafers
  • Situationsabhängige Stepping-Bahn-Algorithmen (kürzeste Distanz, x-Mäander, y-Mäander, Hot Probing, Site Balancing)
  • Reduzierung der Nadel-Neuausrichtungen mittels Stepping-Bahn-Algorithmen für Hot Probing
  • Eine MSO-Einzelbenutzerlizenz kann optimierte Stepping-Daten für Ihren gesamten Probingbereich generieren

Layout Optimizer

Automatic Layout Finder(ALF-)Lösung

MSO kann mit einer Automatic Layout Finder(ALF-)Lösung erweitert werden, welche die optimale Kanalanordnung der Prüfkarte für einen bestimmten Wafertyp berechnet.

Hauptvorteile:

  • Automatische Berechnung der Layoutform (Kanalanordnung), die zur Minimierung der für den Test eines Waferprodukts erforderlichen Berührungen führt, wobei die Maximalanzahl der für Paralleltests verfügbaren Kanäle berücksichtigt wird
  • Übersichtstabelle über alle berechneten Layoutformen und ihre MSO-Ergebnisdaten gestattet interaktive Berührungsvorschau
  • Berücksichtigung von Einschränkungen zur Eingrenzung der ALF-Ergebnisse (max. xy-Dimension der Prüfkarte, Anzahl von Sprüngen zwischen aktiven Probingkanälen bei x oder y)

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