Wafer Map Editor
Unser Wafer Map Editor erlaubt die visuelle Anzeige und Bearbeitung von Wafermap-Daten. Das primäre kompatible Format ist WQL, das sich mit jedem verfügbaren Wafermap-Konvertierer erweitern lässt..
Control Map Creator/Editor
Der Wafer Map Creator umfasst alle Funktionen des Wafer Map Editor. Zusätzlich ermöglicht er das Laden eines echten Waferbildes und seines transparenten Overlays, sodass ein entsprechendes Wafermap-Raster erstellt werden kann. Dieses Tool ist für die schnelle Wafermap-Erstellung anhand eines physischen Waferbildes gedacht.
Measurement Tool
Das Measurement Tool dient als Metrologie-Applikation für manuelle Messungen auf 2D-Kamerabildern und kann als Einzelapplikation oder in eine Maschinensteuerungssoftware integriert verwendet werden..
Defect ReViewer
Der Defect ReViewer ist eine Anwendung zur Anzeige und Bearbeitung von KLA Result Files. Er wird in der Regel als Einzelapplikation zur Anzeige der Defektbilder im KLA Result File verwendet und kann optional mit dem Funktionsumfang des Measurement Tools kombiniert werden.
MIDOS
Manufacturing Information Documentation and Schooling Die Hauptaufgabe von MIDOS ist die digitale Dokumentation von Defekten und unklaren wesentlichen Problemen bei der Sichtinspektion von Halbleitergeräten.